Fotorelé compatti per sistemi di test ad alta temperatura

Le apparecchiature di test automatizzate e l’elettronica automotive richiedono sempre più componenti di commutazione compatti in grado di operare sotto elevati carichi termici. In questo contesto, Toshiba Electronics Europe GmbH ha introdotto una nuova serie di fotorelé progettati per il funzionamento ad alte temperature e per PCB con spazio limitato nelle applicazioni di test e misura.

Affrontare i vincoli termici nell’elettronica automotive e nei sistemi di test
I nuovi fotorelé — TLP3407SRB, TLP3412SRB, TLP3412SRHB e TLP3412SRLB — sono progettati per operare a temperature fino a 135 °C, superando il valore tipico di 125 °C dei dispositivi comparabili. Questa tolleranza termica ne consente l’utilizzo in ambienti particolarmente impegnativi come sistemi di test per semiconduttori automotive, apparecchiature di burn-in e schede elettroniche di test.

Questi contesti stanno diventando sempre più diffusi con la crescita dell’elettrificazione e dello sviluppo della guida autonoma, che aumentano le esigenze di test per l’elettronica di potenza e i semiconduttori all’interno dell’ecosistema dei dati automotive.

I dispositivi sono alloggiati in un package S-VSON4T con dimensioni di circa 1,45 × 2,0 mm, permettendo layout di circuito compatti dove lo spazio sulla scheda è limitato.

Semplificare la progettazione dei circuiti grazie ai componenti integrati
I fotorelé integrano resistori di ingresso, consentendo il controllo diretto in tensione senza la necessità di resistori esterni. Questo riduce il numero di componenti e semplifica la progettazione dei PCB, liberando spazio utile per altri circuiti.

Il package compatto supporta inoltre il montaggio ad alta densità, permettendo l’integrazione di più relé in progetti con spazio ridotto senza compromettere l’affidabilità della commutazione. Questo aspetto è particolarmente rilevante nei sistemi di test automatizzati, dove più punti di commutazione devono essere integrati in aree limitate.

Caratteristiche di commutazione per applicazioni di misura
Il TLP3407SRB supporta una corrente nominale in conduzione fino a 1 A. I dispositivi correlati — TLP3412SRB, TLP3412SRHB e TLP3412SRLB — offrono una bassa resistenza in stato ON e tempi di risposta rapidi, caratteristiche richieste nelle applicazioni di misura di precisione e nella commutazione automatizzata.

Queste caratteristiche elettriche ne consentono l’utilizzo in applicazioni dove sono necessari comportamenti di commutazione stabili e tempi di risposta prevedibili per garantire l’accuratezza delle procedure di test.

Supporto allo sviluppo di sistemi elettronici compatti
Combinando una maggiore tolleranza alle alte temperature, componenti passivi integrati e un package compatto, la nuova serie di fotorelé risponde ai vincoli progettuali dei moderni sistemi elettronici.

I dispositivi sono destinati a supportare i progettisti nello sviluppo di piattaforme elettroniche compatte e termicamente robuste, in particolare nelle applicazioni dove sono richieste ottimizzazione dello spazio sul PCB e prestazioni di commutazione affidabili.

www.toshiba.com

Edited by industrial journalist, Aishwarya Mambet — AI-powered.